TLPS-2000 传输线脉冲测试系统
典型应用场景
TLPS-2000（Transmission Line Pulse Test System）半导体器件传输线脉冲测试系统用于半导体器件如二极管、三极管、封装芯片的传输线脉冲（TLP）测试。系统主要由脉冲发生器、TLP I-V曲线专用测量设备、示波器、PC及TLP测试软件等组成。可以产生传输线脉冲（TLP），以评估被测器件（DUT）对TLP脉冲的抗干扰能力，可以测量TLP 瞬态 I-V曲线，还可以选配高精度源表，测量DUT的泄漏电流、I-V曲线等参数。
该系统参考最新标准ANSIESD STM5.5.1-2016等相关规定设计，为研究被测件的TLP特性、敏感阈值，进行相关保护电路设计，提供一个规范、理想的试验依据。
主要特点
1.支持晶圆（Wafer）和封装两个层级的传输线脉冲（TLP）测试，用于评估器件的静电放电（ESD）防护性能
2.基于Windows®操作系统开发的集成化系统
3.内置可产生高电流的传输线脉冲（TLP）发生器，满足ESD测试的严苛电流需求
4.集成四象限源表（SMU）模块，可同步输出±200V电压并实时测量
5.可连接半自动探针台（Semiautomatic Probers），实现晶圆级自动化测试
6.配备具备先进算法的软件系统，提供直观操作界面及自动化测试报告生成功能
7.采用紧凑型设计，占用空间小（Small Footprint），适合实验室台面部署
主要技术指标
| 项目Items | TLPS-2000 |
| 最大开路电压 Maximum open circuit voltage | ±1kV/2kV/4kV(可选Optional) |
| 最小电压步进 Minimum voltage step | 0.25V( 据量程而定 Depending on the range) |
| 最大短路电流 Maximum short circuit current | 20A/40A/80A(可选Optional) |
| 上升时间Rise time | 0.2ns/0.5ns/2ns/10ns/...(可选Optional) |
| 脉冲宽度 Pulse width | 5ns/10ns/50ns/100ns/200ns/500ns/1000ns/...(可选Optional) |
远方视频号
